并口
Windows界面可在WIN98，WIN2000，WIN XP 等系統(tǒng)下工作
雙CPU工作，速度快，效率高。
功能測(cè)試40×2通道
VI曲線測(cè)試40×2通道
雙測(cè)試夾VI曲線測(cè)試
網(wǎng)絡(luò)提取 程控加電
EPROM/RAM在線讀取
模擬器件 VI曲線測(cè)試
總線隔離信號(hào)
中文維修筆記
功能測(cè)試軟件設(shè)上拉電阻——集電開路門的測(cè)試
功能測(cè)試外供電源——被測(cè)電路板可測(cè)試
功能測(cè)試具有三態(tài)識(shí)別能力——可測(cè)三態(tài)器件和IC負(fù)載能力下降故障
V/I測(cè)試正負(fù)掃描電壓——同時(shí)檢查正/反向V/I曲線
V/I測(cè)試六個(gè)掃描頻率——V/I曲線測(cè)試
V/I測(cè)試三種測(cè)試電壓幅度——器件的V/I測(cè)試
集成電路在線功能測(cè)試
采用后驅(qū)動(dòng)隔離，可在線判定IC邏輯功能是否正確，可測(cè)74系列、4000/45000邏輯IC、75系列接口IC及多種存儲(chǔ)器等集成電路。
1.直接顯示測(cè)試結(jié)果，確定可疑IC
2.顯示測(cè)試過程，測(cè)試激勵(lì)。預(yù)期和實(shí)際響應(yīng)，幫助分析故障原因
3.查找無標(biāo)記型號(hào)IC或同功能不同型號(hào)的IC。
集成電路在線狀態(tài)測(cè)試通過好壞板上相應(yīng)IC的狀態(tài)進(jìn)行比較，找出有故障的IC。
1.狀態(tài)學(xué)：在線學(xué)無故障IC的引腳關(guān)系，互連狀態(tài)和測(cè)試的激勵(lì)與響應(yīng)，并存入數(shù)據(jù)庫中
2.狀態(tài)比較：同故障板上相應(yīng)IC在線進(jìn)行狀態(tài)比較，根據(jù)兩者差異判定IC好壞
3.狀態(tài)顯示：顯示存入電腦庫中的IC的狀態(tài)資料。
集成電路離線功能測(cè)試
離線測(cè)試IC功能好壞，自動(dòng)識(shí)別未知型號(hào)的芯片
V/I曲線測(cè)試
通過好壞板上相應(yīng)節(jié)點(diǎn)的動(dòng)態(tài)阻抗圈的異同判定故障節(jié)點(diǎn)及故障IC
1.曲線學(xué)：在線學(xué)無故障板上節(jié)點(diǎn)的動(dòng)態(tài)阻抗曲線（V/I曲線），并存入數(shù)據(jù)庫中
2.曲線比較：同故障板上相應(yīng)節(jié)點(diǎn)的動(dòng)態(tài)阻抗曲進(jìn)行比較，根據(jù)差異大小及維修經(jīng)驗(yàn)判定與此節(jié)點(diǎn)相關(guān)的IC是否損壞
3.曲線顯示：顯示已存入電腦庫中電路板上節(jié)點(diǎn)的動(dòng)態(tài)阻抗圖資料集成電路分析測(cè)試網(wǎng)絡(luò)提取測(cè)試使用戶方便的測(cè)試出元器件之間的連接關(guān)系，；輔助判斷芯片的好壞。實(shí)現(xiàn)網(wǎng)絡(luò)提取采用了四種模式：
1.探棒對(duì)探捧（“棒”—“棒”模式）
2.探捧對(duì)測(cè)試夾（“棒”—“夾”模式）
3.測(cè)試夾對(duì)探捧（“夾”—“棒”模式）
4.測(cè)試夾對(duì)測(cè)試夾（“夾”—“夾”模式）
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