CMX2/3-DL測厚儀不僅有MX2-DL的所有功能，而且還有同時測量金屬基體和表面非金屬涂層厚度的能力。
多種測量方式
顯示模式（數字式顯示、B掃描顯示、A掃描顯示）
增益可調節：低、低、中、高、高
增益值可到110dB
自動增益控制（AGC）
時間增益校正（TDG）
探頭自動識別，自動調零和溫度補償
*值、*小值顯示
可存儲64個用戶參數設置
高速掃查（50次/秒）
高達250HZ的脈沖重復頻率
B掃描顯示用于顯示被測材料的截面形狀
A掃描波形顯示和RF顯示
差值測量模式
高速掃查功能可用于快速找到壁厚的*小值
上/下限聲光報警功能
數據存貯：內置4GB SD存儲卡
可通過軟件與計算機進行數據交換，方便用戶打印檢測報告
界面波-底波(P-E)方式： 0.63－1219.2mm
帶自動溫度補償的界面波-底波(PETP)方式： 0.63－1219.2mm
多層測量(PECT)方式： 0.63－1219.2mm（基體） 0.01－2.54mm（表面涂層）
穿透涂層測量(E-E)模式： 2.54?—152.4mm（因涂層的不同會有所變化）
三次波穿透涂層測量(E-EV)模式： 2.54?—102mm（因涂層的不同會有所變化）
僅測量涂層(CT)模式：0.0127——2.54mm（因涂層的不同會有所變化）
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