CMX2/3-DL測厚儀不僅有MX2-DL的所有功能,而且還有同時測量金屬基體和表面非金屬涂層厚度的能力。
多種測量方式
顯示模式(數(shù)字式顯示、B掃描顯示、A掃描顯示)
增益可調(diào)節(jié):低、低、中、高、高
增益值可到110dB
自動增益控制(AGC)
時間增益校正(TDG)
探頭自動識別,自動調(diào)零和溫度補償
*值、*小值顯示
可存儲64個用戶參數(shù)設置
高速掃查(50次/秒)
高達250HZ的脈沖重復頻率
B掃描顯示用于顯示被測材料的截面形狀
A掃描波形顯示和RF顯示
差值測量模式
高速掃查功能可用于快速找到壁厚的*小值
上/下限聲光報警功能
數(shù)據(jù)存貯:內(nèi)置4GB SD存儲卡
可通過軟件與計算機進行數(shù)據(jù)交換,方便用戶打印檢測報告
界面波-底波(P-E)方式: 0.63-1219.2mm
帶自動溫度補償?shù)慕缑娌?底波(PETP)方式: 0.63-1219.2mm
多層測量(PECT)方式: 0.63-1219.2mm(基體) 0.01-2.54mm(表面涂層)
穿透涂層測量(E-E)模式: 2.54?—152.4mm(因涂層的不同會有所變化)
三次波穿透涂層測量(E-EV)模式: 2.54?—102mm(因涂層的不同會有所變化)
僅測量涂層(CT)模式:0.0127——2.54mm(因涂層的不同會有所變化)
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